ホームページ / 製品 / TS-15010

TS-15010

ラックマウントテストスケールバックプレーン

TS-15010はUSB接続機能を備えており、フィクスチャマウント内でTestScaleシステムにモジュールを追加できる5つのスロットを備えています。このバックプレーンは、プログラム可能な電源やI/Oモジュールなどのモジュールをサポートします。さらに、TS-15010は、工業用PCと通信するために標準の37ピンD-SUBおよびUSBを介した接続をサポートします。1つのスロットは必要なコアモジュール用に予約されています。

仕様

仕様は、以下の仕様を条件とした場合の代表的なスペックです。
  • 周囲温度0 °C~55 °C。周囲温度は、筐体ファン入口(吸気口)の温度と定義される。バックプレーンの「Thermal Considerations」トピックを参照。周囲温度の特性と冷却要件に関する追加情報については、ni.com/docs のドキュメントを参照してください。
  • すべての電圧はCOMを基準にしています。

アナログ入力

入力FIFOサイズ スロットごとに 127 サンプル
最大サンプルレート TestScale I/O モジュールによって決定されます

注記:性能は、インストールされているTestScale I/Oモジュールのタイプとタスクのチャンネル数に依存します。

タイミング精度 50 ppmのサンプルレート
タイミング分解能 12.5ns

注記:タイミング精度とタイミング分解能の仕様には、グループ遅延は含まれていません。詳細については、各TestScale I/Oモジュールのマニュアルを参照してください。

対応チャンネル数 TestScale I/O モジュールによって決定されます

アナログ出力

対応チャンネル数  
ハードウェアタイミングタスク  
オンボード回生 16
非再生 TestScale I/O モジュールによって決定されます
非ハードウェア・タスク TestScale I/O モジュールによって決定されます
最大更新レート  
オンボード回生 1.6 MS/s (マルチチャネル、集約)
非再生 TestScale I/O モジュールによって決定されます
タイミング精度 50 ppmのサンプルレート
タイミング分解能 12.5ns
出力FIFOサイズ  
オンボード回生 使用チャンネル間で8,191サンプルを共有
非再生 スロットごとに 127 サンプル
AO波形モード 非周期波形、オンボードメモリからの周期波形再生成モード、動的更新を含むホストバッファから
の周期波形再生成

デジタル波形特性

波形取得(DI)FIFO スロットごとに 127 サンプル
波形生成 (DO) FIFO  
スロット1~4 2,047サンプル
スロット 5 とコア モジュール スロット 1,023サンプル

注記:モジュールがスロット1~4に取り付けられている場合、FIFOはすべてのスロットで1スロットあたり2,047サンプルです。
いずれかのモジュールがスロット5またはDO付きコア・モジュール・スロットに取り付けられている場合、FIFOはすべてのスロットで1,023サンプル/スロットになります。

デジタル入力サンプルクロック周波数  
アプリケーションへのストリーミング システム依存のメモリ
有限 0~10MHz
デジタル出力サンプルクロック周波数  
アプリケーションからのストリーミング システム依存のメモリ
FIFOからの再生 0MHz~10MHz
有限 0MHz~10MHz
タイミング精度 50ppm

汎用カウンター/タイマー

カウンタ/タイマーの数 4
解決 32ビット
カウンタ測定 エッジカウント、パルス、半周期、周期、2エッジ分離、パルス幅
位置測定 チャネル Z のリロードによる X1、X2、X4 直交エンコーディング。 2パルスエンコーディング
出力アプリケーション パルス、動的更新を伴うパルス列、周波数分割、等価時間サンプリング
内部ベースクロック 80MHz、20MHz、100kHz
外部ベースクロック周波数 0MHz~20MHz
ベースクロックの精度 50ppm
出力周波数 0MHz~20MHz
入力 ゲート、ソース、HW_Arm、Aux、A、B、Z、Up_Down
入力ルーティング オプション 任意のモジュール PFI、アナログ トリガー、多くの内部信号
FIFO 専用の 127 サンプル FIFO

周波数発生器

チャンネル数 1
ベースクロック 20MHz、10MHz、100kHz
約数 1 ~ 16 (整数)
ベースクロックの精度 50ppm
出力 任意のモジュール PFI 端末

モジュールの PFI の特性

機能性 スタティックデジタル入力、スタティックデジタル出力、タイミング入力、タイミング出力
タイミング出力ソース 多数のアナログ入力、アナログ出力、カウンタ、デジタル入力、
およびデジタル出力タイミング信号

注記:実際に使用できる信号は、取り付けられたTestScale I/Oモジュールのタイプによって異なります。

タイミング入力周波数 0MHz~20MHz
タイミング出力周波数 0MHz~20MHz

デジタルトリガー

ソース 任意のモジュール PFI 端末
極性 ほとんどの信号をソフトウェアで選択可能
アナログ入力機能 開始トリガー、基準トリガー、一時停止トリガー、サンプル クロック、
サンプル クロック タイムベース
アナログ出力機能 開始トリガー、一時停止トリガー、サンプル クロック、サンプル クロック タイムベース
カウンタ/タイマー機能 ゲート、ソース、HW_Arm、Aux、A、B、Z、Up_Down

モジュールのI/O状態

電源投入時 モジュール依存。各 TestScale I/O モジュールのマニュアルを参照してください。

注記:USBケーブルを取り外すと、モジュールの入出力が電源投入時の状態に戻ることがあります。

USBポートインターフェース

ホスト  
ポート数 2
USB仕様 USB 2.0 ハイスピード
VBus電流 ポートあたり最大 500 mA
デバイス  
ポート数 1
USB仕様 USB 2.0 ハイスピード

電力要件

入力電圧範囲 (Vsup および Vaux) 11V~28V
Vsup からの消費電力 最大13.5W
熱放散 最大2.6W

注記:ni.com/docsのバックプレーン資料の「Power Considerations」トピックには、TestScale バックプレーンの総電力要件を決定するために必要な追加情報が含まれています。
TestScale の総入力電力 Vsup および Vaux 入力電力を決定については、「Power Considerations」のトピックを参照してください 。

電源入力コネクタ、Vsup および Vaux 4 極、3.5 mm ピッチ、最大11 A定格の 2 列コネクタ、Molex Ultra-Fit 垂直ヘッダー 172299-1204 と同様
電源入力嵌合コネクタ Molex Ultra-Fit タングレス リセプタクル ハウジング 1722583104、Molex 圧着端子付き 1722536011、
または同等品
USBからの消費電力、4.10~ 5.25 V 最大500μA

冷却

モジュール冷却システム 高速/自動速度セレクターを備えた3 つの169 cfmファンによる強制空気循環 (正圧)
スロットのエアフロー方向 モジュールの下部からモジュールの上部へ
モジュール冷却用吸気口 デバイスの背面下部
モジュール冷却排気 デバイスの両側と上部に沿って
電源冷却システム 2 つの統合ファンによる強制空気循環
電源冷却用吸気口 デバイスの右側
電源冷却排気 デバイスの左側

体格的特徴

寸法 ni.com/dimensionsにアクセスし、バックプレーンのモデル番号で検索してください。

クリーニングが必要な場合は、乾いたタオルで拭いてください。

環境特性

温度  
オペレーティング 0℃~55℃
ストレージ -40℃~71℃
湿度  
オペレーティング 10% ~ 90%、結露なきこと
ストレージ 5% ~ 95%、結露なきこと
汚染度 2
最大高度 2,000m
衝撃と振動  
動作時の振動 5 Hz~500 Hz、0.3 g RMS
非動作時の振動 5 Hz~500 Hz、2.4 g RMS
動作時の衝撃 30 g、半正弦、11 msパルス

NIシステムインテグレーション

弊社は、NIの日本初 プラチナアライアンスパートナーです。
「NI LabVIEW」を活用しT&M(計測システム・試験機)システムの提案・設計から開発・導入まで一括したサービスを提供しております。
まずはお気軽に、NI製品とLabIVIEWの高度な開発知識を持つ弊社までお問い合わせください。

お問い合わせ・見積依頼フォーム

※当社の個人情報保護方針を必ずお読みいただき、同意の上必要事項をご入力してください。

Translate »