概要

XFS-R 3-1 スキャナープローブは、アセンブリ上のRF磁場の直接高解像度測定用に設計されています。例としては、ピンやICケース、導体経路、デカップリングコンデンサ、およびEMCコンポーネントの周りがあります。XFS-R 3-1 Hフィールドスキャナープローブは、高磁場強度のコンポーネント近くでの測定に適しています。電流減衰シースを備えており、したがって電気的にシールドされています。50 Ω入力を持つスペクトラムアナライザーやオシロスコープに接続できます。Hフィールドプローブには内部終端抵抗があります。

 

技術的なパラメーター

周波数帯	30 MHz ... 6 GHz
解像度	≈ 1 mm
プローブヘッドの寸法:	Ø ≈ 3 mm
コネクタ - 出力	SMA, male, jack

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。