XFS-E 10 スキャナープローブ

概要

XFS-E 10スキャナープローブのプローブヘッド内の電極は、幅約0.2 mmです。このプローブを使用すると、非常に小さな電界源も特定できます。例えば、幅0.1 mmの導電経路や、マルチピンICの単一ピンなどです。測定する際は、電界プローブを対象物に配置します。XFS-E 10 プローブはパッシブの近接場プローブです。通常、プローブヘッドは測定対象物の上に直接配置されます（高電界強度）。このプローブには電流を減衰させるシースがあり、したがって電気的にシールドされています。スペクトラムアナライザや50Ω入力のオシロスコープに接続することができます。Hフィールドスキャナープローブには内部終端抵抗があります。

テクニカルパラメーター

周波数帯	30 MHz ... 6 GHz
解像度	≈ 0.2 mm
プローブヘッドの寸法：	≈ (0.5 x 2) mm
コネクタ - 出力	SMA, male, jack
周波数応答 [dBµV] / [dBµA/m]
E-フィールド補正曲線 [dBµV/mm] / [dBµV]
測定の原則

システムインテグレーションサービス

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