XFS-E 09s
スキャナープローブ 30 MHz から 6 GHz まで

 

概要

XFS-E 09s スキャナプローブのプローブヘッド上の電極は、ICの表面上でデカップリングされる電場を検出します。プローブの解像度により、アセンブリの上で 0.5 mm から 10 mm の距離での測定が可能です。測定のために、Eフィールドプローブはターゲットの上に置かれます。XSF-E 09s はパッシブ近接場プローブです。測定するには、Eフィールドプローブをコンポーネントおよびプリント基板の上または上に配置します。電流減衰シースを備え、したがって上半分は電気的にシールドされています。50 Ω 入力を持つスペクトラムアナライザーまたはオシロスコープに接続できます。Eフィールドスキャナプローブには内部の終端抵抗があります。

 

技術的なパラメーター

周波数帯	30 MHz ... 6 GHz
解像度	≈ 0.2 mm
プローブヘッドの寸法:	≈ (10 x 10) mm
コネクタ - 出力	SMA, male, jack

 

周波数応答 [dBµV] / [dBµA/m]

E-場補正曲線 [dBµV/mm] / [dBµV]

システムインテグレーションサービス

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