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概要

XSF-E 09sはパッシブ近接場プローブです。測定するために、Eフィールドプローブはコンポーネントやプリント基板の上に配置されます。電流減衰シースを持ち、したがって上半分は電気的にシールドされています。50Ω入力のスペクトラムアナライザーやオシロスコープに接続できます。Eフィールドスキャナープローブには内部終端抵抗があります。
XSF-E 09sはパッシブ近接場プローブです。測定するために、Eフィールドプローブはコンポーネントやプリント基板の上に配置されます。電流減衰シースを備えているため、その上半分は電気的にシールドされています。50Ωの入力を持つスペクトラムアナライザーまたはオシロスコープに接続できます。Eフィールドスキャナープローブには内部終了抵抗があります。

 

技術的なパラメーター

周波数帯 30 MHz ... 6 GHz
解像度 ≈ 0.2 mm
プローブヘッドの寸法: ≈ (10 x 10) mm
コネクタ - 出力 SMA, male, jack

 

周波数応答 [dBµV] / [dBµA/m]

E-フィールド補正曲線

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

  • システム構成設計・機器選定支援
  • LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
  • 制御盤設計・製作
  • 信号整合・インターフェース設計
  • ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
  • 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。

 

 

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