ホームページ / 製品 / Semight製品 / WAT6200S WATシリアルWaferアクセプタンステストシステム

WAT6200S WATシリアルWaferアクセプタンステストシステム

 

WAT6200Sシリーズ汎用シリアルWATテストシステムは、迅速に正確な直流測定、容量測定、その他の高周波アプリケーション、フラッシュメモリテストなどを実行できます。
聯訊儀器 WAT6200SシリーズシステムはWAT6210SとWAT6215Sの2つのモデルに分かれており、システムは最大 8チャンネルのソースメーターユニット(SMU)入力をサポートし、電流または電圧源、電流または電圧計として個別に構成できます。システムは最大 4チャンネルの高圧パルス発生モジュールHV-SPGUをサポートし、現代の高度なフラッシュテスト用に迅速なパルス生成能力を提供します。WAT6210Sは最大 48チャンネルの低漏れ電流スイッチマトリックス出力に拡張可能で、そのスイッチマトリックスとSMUはテストヘッド内に配置されています。WAT6215Sは2 台の低漏れ電流スイッチマトリックスを使用し、最大 48チャンネルの全ケルビン接続出力に拡張可能で、そのすべての計器はキャビネット内に配置されており、全自動または半自動プローブステーションと連携して使用されます。システムはまた、DVM、LCR、Signal Analyzerなどの外部計器を接続するための6または12の補助入力ポートをサポートし、高精度の電圧、容量、周波数の連続測定を実現します。
 
 
特徴
 
自社開発のコア計器

元データ表、高電圧パルス電源、低リークスイッチマトリックスはすべて自社開発製品であり、お客様のサプライチェーンにおける供給リスクを低減します。

 

ピン数の柔軟な設定

最大 14チャンネルの入力と48チャンネルの出力をサポートしています 独立 Chuck 出力、
ユーザーが柔軟に設定できるように、低コストの反復的なアップグレードを実現する。

 

精度が高い

精度は1pAに達し、システム漏れ電流は<1pAです。

 

ソフトサポートSECS/GEM

可接入顧客 EAP、
遠隔監視は操作が簡単で、作業効率を向上させます。

 

集成 GAL/DIAG/PVソフトウェア

ユーザーテストログはカスタマイズ可能で、より低レベルの漏れ電流パラメータの測定に対応しています。これにより、ユーザーは問題を迅速に特定できます。

 

主流の48ピン円形ピンカードに適合

既存のテストシステムを追加コストなしで置き換えます。

 

すべての主流プローバーをサポートしています。

プローブステーションとの高い互換性

TEL P8XL/P12/P12XL/Precio XL,TSK UF200/UF3000/UF3000EX 等

 

高適応、全互換

兼容テストプログラムとAlgoアルゴリズム、
Pythonプログラミングを支持する。

 

システム構成

WAT6200S系列型号

序号

モデル

名称

説明

1 WAT6210S 汎用WAT測定装置 200V,1Adc,100nV/1fA,48Pin
2 WAT6215S 汎用WAT測定装置

200V,1Adc,100nv/1fA,48Pin full kelvin,Cable Out

 

WAT6200S系列システム構成

子類

説明

ワークステーションおよびシステムソフトウェア

Win10ワークステーション、ptSemightテストソフトウェア

電容計

市販品(オプション):

1fF〜100nFの測定範囲

電圧計

市販品(オプション):

7 位半以上の解像度

信号分析器

市販品(オプション):

9K~10M 周波数範囲

低漏れ電流スイッチマトリックス

RM1010-LLC:

低漏電流スイッチマトリックス主機は、14チャンネル入力をサポートし、最大 4 枚のR1010G-LLCサブカードを挿入でき、48チャンネル出力をサポートし、独立専用のチャック出力があります

R1010G-LLC(オプション):

低漏電流スイッチマトリックス子カード、8チャンネル出力 12チャンネル出力、200V、1A、<100fA@10V(低漏電流チャンネル)

PXIeシャーシ SMU、SPGU 数量に適合したPXIeシャーシ

ソース測定ユニット(SMU)

S2012C(オプション):

1スロット占有、200V、1A、100nV/10fA

S2016C(オプション):

1スロット占有、200V、1A、100nV/1fA

高電圧パルス発生ユニット(SPGU)

S3023P(オプション):

2スロット占有、±40V(オープン)、±20V(50Ω)

 

システム機能の概要

テスト目標

Si/GaN/SiC 等半導体デバイスのウエハレベルWATテスト、WLRテスト

テスト項目(に限らず)

IV/CV

Id-Vd,Id-Vg,Vth,BV,Ig,Ioff,Gm

MIM_CAP,C & G

Ic-Vc,BETA,BV

Ron,R_tlm,Rsh_van

Spot,Sweep,Search

Kelvin & Non-Kelvin

Differential Voltage

頻度

Frequency

信頼性

HCI,BTI/NBTI,TDDB

直流テスト

テスト機器

Semight S2012C,S2016C

テスト機能

単点、スキャンなど

テスト範囲

S2012C:10fA to 1A 100nV to 200V

S2016C: 1fA to 1A 100nV to 200V

電容テスト

テスト機器

商用計器

テスト機能

C/G

テスト頻度

1kHz,10kHz,100kHz,and 1MHz

テスト範囲

1fF to 100nF

直流バイアス

±40 V

差分電圧テスト

テスト機器

商用DVM

テスト範囲

1µV to 100V

高速パルス信号生成

信号発生器

Semight S3023P

信号幅度

±40V(開路)、±20V(50Ω負荷)

信号周波数

0.1Hz to 10MHz

信号パルス幅

60 ns to (脈冲周期- 60 ns)

信号エッジ

20 ns(Vamp < 5V, 負荷開路)

信号分析

分析計

商用計器

周波数範囲

9K to 10M Hz

低圧低漏電流スイッチマトリックス

スイッチマトリックス

Semight RM1010-LLC

出力チャネル

x12, x24, x36, x48

計器インターフェース

最高で8ポートの同時入力をサポートし、そのうち2ポートは電漏電流入力をサポートしています

最高 14ポート入力、外部計器のシリアルテスト用に2つの4 選 1ポートを含む

両端口の二択出力をチャックに送る

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

  • システム構成設計・機器選定支援
  • LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
  • 制御盤設計・製作
  • 信号整合・インターフェース設計
  • ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
  • 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。

 

 

お問い合わせ・見積依頼フォーム

※当社の個人情報保護方針を必ずお読みいただき、同意の上必要事項をご入力してください。

Translate »