MTP8104 800G 4チャンネルトランシーバーテストヘッド

 

MTP8104 800Gトランシーバーテスターは、光インターフェースビットエラーレートテスター(BERT)と3温度帯制御ユニットを統合したBER総合テストシステムです。

 

特徴

柔軟に適用: 広いレート範囲、優れた性能

対応レート範囲：24.33~56.4 GBaud
各チャンネルはそれぞれNRZまたはPAM4信号フォーマットに単独設定可能

 

テスト機能が充実

モジュールプロトコル、エラーレート解析、FEC誤り訂正解析をカバー
高精度BERサンプリングモードに対応 (<10ms)

 

総合的にコストが低い

豊富な部品とオプションがあり、消耗品の維持費が低く、MCB消耗品は単独に交換可能
テストステーションの構成がより柔軟で、部品の交換が便利で、総合的なテストコストが大幅に削減

 

高効率のワンストップソリューション

TEC温度サイクル制御システムを統合し、低コストで迅速かつ効率的な3温度帯テストを実現

 

ATEの活用シーンに適合

柔軟で優れたデータベース管理機能により、研究開発時にデータの詳細分析に役立ちます
イーサネットポートまたはUSB制御インターフェースを介して外部API（LabVIEW、C#）を呼び出し、並行で製品のプログラム制御を可能に

 

多様なテストパターンに対応

PRBS7~31Q  ,SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/スクエアウェーブ/カスタムパターンなど

 

機能と利点

複数ホストの並行プログラム制御により、より柔軟なATEマルチスレッドタスク処理が可能

異なるタイプのモジュールの並行テストが可能で、OSFP/QSFP-DD/QSFP112/QSFP56モジュールのテストに対応

合理な設計--両面TEC＋水冷機により、より優れた温度サイクル効率を実現

温度上昇と下降の時間：～2 min
温度制御範囲：-5˚C～+75˚C
温度制御の精度：±1℃
温度テスト：モジュールDMI温度
テスト対象モジュールの消費電力：15W/モジュール
テスト対象モジュールの数：4つのQSFP-DDモジュールの並列温度制御

光インターフェースビットエラーレートテスター（BERT）、MCB、およびTEC温度サイクル制御ユニットを統合

高温・低温環境での400G/800G光モジュールのBER性能とアイパターン品質テストに使用可能
QSFP-DD、OSFP、QSFP112などの光モジュールパッケージング方法に対応

消耗品の維持--便利で経済的

マザーボード/MCB分離設計 - モジュールのプラグイン/プラグアウトの最大回数に達した後は、MCBだけを取り外して交換することが可能、光モジュールのプラグイン/プラグアウト - システムはリアルタイムでカウントし、消耗品の寿命をユーザーに適時に通知　TEC/圧着ボックス/MCBなどの消耗品部品は、簡単に取り外し・取り付けができるように設計されています。

仕様

800G トランシーバーテストヘッド
製品名	モジュール種類	テストの数
MTP8104	400G/800G OSFP	4
	400G/800G QSFP_DD	4

 

発射機仕様

パラメータ名	パラメータタイプ	仕様
パターンジェネレーター 仕様	出力タイプ	差動/シングルエンドPAM4/NRZ
	モジュールポート数	4
	端末	交流結合
	出力インピーダンス	100 Ω ± 10%
	データパターン	PRBS 7/9/11/13/15/23/31, PRBS7~31Q； SSPRQ，JP03A，JP03B，LIN，方波、自定义コード型など
	符号レート(GBaud)[1]	24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/28.125/ 28.2/48.66/49.7664/51.5625/53.125/56/56.25/56.4
	周波数精度	±50 ppm (typical)
	最大出力幅 (差動)	750 mVp-p (typical) [2]
	立ち上がり時間 (20-80%) [3]	<10 ps (typical)
	立ち下がり時間 (20%-80%)[3]	<10 ps (typical)
	ランダムジッター [4]	<350 fs (typical)
出力クロック仕様	出力幅度	>300 mVp-p
	出力タイプ	交流結合、単端
	分周比 設定可能な分周	4/8/16/32
	出力をトリガーする	各ポート独立のトリガークロック出力をサポート

 

受信機仕様

パラメータ名	パラメータタイプ	仕様
ビットエラー検出器の仕様	入力タイプ	差動PAM4 /NRZ
	端末	ACカップリング
	入力インピーダンス	100 Ω ±10%
	受信幅(差動) [1]	150 ~ 750 mVp-p (typical)
	受信感度(差動)[1]	150 mVp-p (typical)
	データパターン	PRBS 7/9/11/13/15/23/31，PRBS7~31Q, SSPRQ
	符号レート(GBaud)[2]	24.33/24.8832/25/25.78125/26.5625/27.89/27.95/28.05/ 28.125/28.2/48.66/49.7664/51.5625/53.125/56/56.25/56.4
	クロックモード	クロックリカバリーを搭載
	同期タイプ	自動同期 (レベル/位相)

 

モジュールテスト仕様

パラメータ名	パラメータタイプ	仕様
温循指標[1][2]	温度制御方式	接触式 TEC 温度制御
	温度上昇と下降の範囲	-5 ~＋85 ℃ [3]
	安定性	±1 ℃ [4]
	温度制御精度	±0.1 ℃
光モジュールの偏差テスト仕様	出力範囲	2.85～3.67 V
	歩進精度	1 mV[5]

[1] 温度上昇・下降の効率は、現場の環境温度、モジュールの消費電力や熱源位置、水冷機の出力などの要因によって変動します

[2] 低温で長時間使用する場合、結露する恐れがあり、乾い空気をテストキャビティに通し、定期的に温度を上げて乾燥させるものとします

[3] テスト環境: 室温25℃で、15Wモジュールは密閉空間に置き、外部との熱交換を減らします。モジュールが報告するDMI温度をフィードバックとして使用

[4] 設定温度と測定対象のハウジング温度との温度差を複数回測定

[5] 実験室のテスト環境で測定（温度 25℃一定、負荷 12W 一定）

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。