SIGLENT（シグレント）SDS5000X HDシリーズ デジタル・オシロスコープ

特長
・350 MHz、500 MHz、1 GHz モデル
・アナログチャネル 4/6/8ch + 外部トリガ 1ch
・デジタルチャネル 16ch
・最大サンプリングレート 5 GS/s
・最大波形長 2.5 Gポイント
・波形キャプチャレート 最大 650,000 wfm/s（シーケンスモード時）
・1 GHz時 代表ENOB（実効分解能） 8.2ビット

■起動シーケンス解析

現代の電子システムは多様なチップとモジュールで構成され、それらの初期化動作が相互干渉する可能性がある。起動シーケンス試験では、各回路モジュールからの信号が所定のタイミングで動作することを保証し、競合回避とシステム安定性を確保する。例えば通信システムにおける不適切な起動シーケンスはデータ伝送エラーの要因となり得る。回路の複雑化に伴い、起動試験の難易度も増大する。SDS5000X HDは関連信号全体の起動プロセスをシングルショットで取得可能であり、測定時間の短縮・効率向上を実現するとともに、繰り返し試験に起因する誤差を最小化する。8電源ラインを有する複雑な回路においても、当機能によりワンショット測定が可能となる。

■三相電力解析

8チャンネル・オシロスコープによる三相電力解析では、全相への同時接続が可能。三相電圧・電流信号を同期計測し、波形とパラメータをリアルタイムで高精度に取得。位相差の直接観察・比較による相平衡の確認を支援。高速フーリエ変換(FFT)機能により、多チャンネル対応オシロスコープは三相信号の高調波解析を実行。オプションの三相解析ソフトウェアは、電動機のベクトル線図試験、電力量評価、リプル解析、効率評価をサポート。

Siglent最新8チャンネル・オシロスコープと光アイソレーション・プローブの投入により、ワイドバンドギャップ半導体試験ソリューションが完成。SDS5000X HDはピコ秒(ps)台の立上り時間を実現し、炭化ケイ素(SiC)・窒化ガリウム(GaN)デバイスの高速スイッチング波形を捕捉。スイッチング時の過渡電圧・電流変化、オーバーシュートやリンギング特性を分析し、回路設計と信号整合性の最適化を実現。

■ワイドバンドギャップ半導体向け包括的試験ソリューション

Siglent最新8チャンネル・オシロスコープと光アイソレーション・プローブの投入により、ワイドバンドギャップ半導体試験ソリューションが完成。SDS5000X HDはピコ秒(ps)台の立上り時間を実現し、炭化ケイ素(SiC)・窒化ガリウム(GaN)デバイスの高速スイッチング波形を捕捉。スイッチング時の過渡電圧・電流変化、オーバーシュートやリンギング特性を分析し、回路設計と信号整合性の最適化を実現。

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。