
RFS-B 3-2 スキャナープローブ
概要
RFS-B 3-2 Hフィールドスキャナープローブの測定コイルは、プローブシャフトに対して直角に配置されています。これにより、プローブヘッドを組立物に非常に近づけて配置でき、強い結合が得られます。RFS-B 3-2は、測定対象物から直角に出る磁力線を検出します。プローブの側面から入る磁力線は検出されません。RFS-B 3-2はパッシブ近接界プローブです。プローブヘッドをPCボード上で垂直に配置すると、測定コイルが直接表面に置かれます。これにより、大型のオン/オフコントローラのコンポーネント間など、アクセスが困難な場所での測定が可能になります。近接界プローブは筐体電流の減衰があり、電気的にシールドされています。スペクトラムアナライザまたは50 Ω入力のオシロスコープに接続することができます。内部終端抵抗はありません。
テクニカルパラメーター
| 周波数帯 | 30 MHz ... 3 GHz |
| プローブヘッドの寸法 | Ø 2 mm |
| カウンター :出力 | SMA, male, plug |
| 長さ | ≈ 55 mm |
| 周波数応答 | ![]() |
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H磁場補正曲線 [dBµA/m] / [dBµV] |
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現在の補正曲線 [dBµA] / [dBµV] |
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| 測定の原則 | ![]() |
システムインテグレーションサービス
ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。
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![H-field correction curve [dBµA/m] / [dBµV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_RFS-B%203-2_H-field%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1760463989396)
![Current correction curve [dBµA] / [dBµV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_RFS-B%203-2_current%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1760463989396)
