PXIを用いたマイクロ波リレー測定

 

 

このソリューションには、Pickeringの64x4 FET PXIマルチプレクサとPXIソリューションが含まれています

 

目標

目的は、Radiallのマイクロ波スイッチの性能を測定する20台以上のテストベンチのテスト能力を倍増させることでした。各Radiallマイクロ波スイッチは、納品前に異なる気候条件下でテストチャンバー内で接点特性の包括的なテストを受ける必要がありました。アップグレードされたテストベンチは、スイッチの容量、テスト速度、および柔軟性を向上させる必要がありました。Radiallマイクロ波スイッチは、熱サイクルを受けながら、長時間にわたって気候チャンバー内で動作させる必要がありました。各テストベンチは、同じテストラン中にさまざまなマイクロ波スイッチを管理できる必要がありました。

 

参加企業

フランスのマイクロ波スイッチメーカーであり、システムの最終ユーザーであるRadiallは、ベンダーから提案されたさまざまなソリューションのすべての評価作業を実施しました。

システムインテグレーターであるMesulogは、Pickering Interfacesと協力して、評価および代替の競合ソリューションと比較できる統合されたPXIソリューションを提供しました。

 

テストアプローチ

各テストベンチは、被試験部品を識別するバーコードスキャナー、接触抵抗の4端子抵抗測定を行うPXI DMM、DUTの接触特性を測定するためにDMMをルーティングするPickering Interfaces PXI マルチプレクサ、NI LabVIEWとTest Standを使用したソフトウェア環境を含むPXIソリューションに基づくことが提案されました。

大きな課題は、PXIスイッチングシステムの適切な選択でした。これは、DMMがチャンバー内のマイクロ波デバイスに対して四端子抵抗測定を行うことを可能にするためです。四端子測定は、接続ワイヤやスイッチ内の抵抗に影響されずにDMMが抵抗を測定できるようにするために必要でした。DMMは複数のデバイス、それぞれに複数の接点を扱う必要があったため、スイッチングシステムは柔軟でなければなりませんでした。また、テストベンチが長期間の連続使用に耐える必要があるため、耐用年数も長くなければなりませんでした。

 

切り替え問題を解く

利用可能なスイッチングシステムに明らかに優れた選択肢はなく、速度、信頼性、精度が主要な基準でした。メスログは複数のアプローチを評価しましたが、どれも妥協点がありました。最終的に、Pickering InterfacesとMesulogは64×4のFETベースマルチプレクサに基づく問題への新しいアプローチを定義するために協力しました。FETの使用により事実上無制限の寿命が提供され、四端子測定の使用によりFETスイッチに固有の経路抵抗を相殺しました。

 

前向きな評価と成功した協力

ソフトウェアおよびハードウェアの両レベルで市場で入手可能な標準製品を使用することで、インテグレーターは柔軟でユーザーフレンドリーなマイクロ波リレー・テスターを提供できました。FETスイッチを通じたPXIアーキテクチャは、他のリレー技術と比較して比類のない高速実行を可能にしながら、無制限のライフサイクルを持っています。

PXIは、製品の入手可能性、アーキテクチャの速度、コンパクトな設置面積、およびコスト効率の高いソリューションのため、論理的な選択でした。結論として、20のテストベンチはこの新しいアーキテクチャに移行しています。また、この同じアーキテクチャは、RADIALL宇宙部門で使用される別のタイプのベンチの再構築のコアとしても使用されます。

MeasulogとPickering Interfacesの協力に加え、Radiallとの緊密な連携により、テストフロアでのPXIの導入は成功しました。PXIの使用により、統合は簡単かつ迅速に行え、エンドカスタマーにとって良い経験となりました。

 

システムインテグレーションサービス

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