PLR0010 パッケージレベル信頼性試験装置

 

Semight PLR0010 パッケージレベル信頼性試験装置は、JEDEC信頼性試験規格に基づいて開発された信頼性評価システムです。本システムは 最高250 °C の温度条件に対応し、アルゴリズムモデルを用いたデータ解析により、プロセス欠陥の分析を可能にします。また、各チャネルには独立した過電流保護機能を搭載しており、被試験デバイス（DUT）の安全性を確保します。さらに、顧客の EAPシステム と連携した生産データ管理に対応しており、詳細な性能評価および品質管理をサポートします。主に TDDB（時間依存絶縁破壊）、HCI（ホットキャリア注入）、BTI（バイアス温度不安定性） などの試験に使用されます。

 

複数の試験モードに対応

TDDB / HCI / BTI / GOI

 

Micro Ovenアーキテクチャを採用

最大4つの温度帯を作り、各Ovenは独立して温度を制御でき、最大温度は250℃

 

大量のテストの並列処理が可能

最大960DUTsに対応

 

高圧テストに対応

電源は最大3500Vまで対応可能

 

On-the-flyに対応

On-the-flyテストとデータ分析に対応

 

自社開発のソフトウェアテストプラットフォーム

Semight PLRソフトウェアテストプラットフォームを採用し、リアルタイムでテスト曲線を表示でき、データの出力形式はユーザーの要望に応じてカスタマイズ可能

 

自社開発SMU

Semight 高精度SMUソースメーターを使用

 

パラメータ	指標
工作温度	15℃～55℃
存储温度	-10℃～50℃
作業湿度	40～60%
保存湿度	<90%（無凝結）
作業高度	0～2000m
供電功率	AC380V 3P+N+PE, 19.1A/50/60Hz &12KW
電磁両立性	EU EMC 基準を満たす
安全	EUの安全基準を満たす
認証	CEまたはSemi S2の認証に適合
ソフトウェアシステム	Linux
ソフトウェア言語環境	C#/C++
ソフトウェア機能	テストタスクの編集と設定、データ表示とデータ分析、MESインターフェース、ユーザー権限管理、キャリブレーションメンテナンス、故障診断

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。