PB6800 SiC KGD テムテスト選別システム

 

PB6800 KGDテストシステムは、主にパワー半導体のDie-levelの静的および動的テストに使用され、チップの性能仕様に基づいたスクリーニングを行うことで、パッケージング後のモジュールの良品率を向上させることができます。

 

特徴

装置に分離設計を採用し、高い拡張性を実現

モジュール設計を採用し、ローディング／アンローディングおよび複数のテストステーションに対応することで、システムの多機能化を実現します。

 

動的および静的パラメトリック・テストに対応

2000V/600A静的テストと1200V/2000A動的テストに対応

 

窒素保護と気圧監視によって高圧スパークを防止することができます

 

窒素ガス圧力検知

プローブカードは密閉チャンバー設計を採用し、アークの発生を防止

 

効率的な多ステーション並列テスト

最大 6つのテストステーション、テスト時間は0.7 秒、UPH>4000

 

良好なメンテナンス性

ダイ破損時の自動ソケット交換をサポートし、設備稼働率を向上

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。