SA8000 半導体パラメータ・アナライザ

SA8000は、多機能かつ高集積な半導体パラメータ・アナライザであり、高効率で精密な半導体デバイスのキャラクタライゼーションを実現します。本システムは包括的な測定機能を備え、標準的な直流 I-V/C-V 測定から高精度な過渡パルス試験まで対応可能です。優れた測定安定性と高いデータ再現性を誇るSA8000は、複雑な構造を持つデバイスに対しても、包括的で信頼性の高いパラメータ分析ソリューションを提供します。

特徴

高性能試験プラットフォーム

サブ・フェムトアンペア分解能

極微小電流の究極的な計測

電流測定分解能：0.1 fA（10-16 A）

フル統合型・多次元計測機能

DC I-V、C-V、および高速パルス計測ユニットの柔軟な組み合わせ

プログラミング不要の「Quick Test」モード

デバイスの特性曲線や主要パラメータを迅速に測定

機能と利点

フル機能・高精度テスト計測

HPSMU 源・測定分解能：100nV/1fA
HRSMU 源・測定分解能：100nV/0.1fA
HV-SPGU 超高速パルスおよび過渡 I-V 計測 (Rise/Fall time, 20ns)
WGFMU 複雑な任意波形生成 (ALWG) および高速計測(Fast I/V, 500MSa/s)
MFCMU 多周波数容量計測(10MHz)

SemiExpert：半導体パラメータ解析用プロフェッショナル・ソフトウェア

スイッチ・マトリクス対応（Switch）
プローバ対応 (Prober)
オープンなアルゴリズム・ライブラリ (Python)
リアルタイム・グラフ表示 (Chart)

オプション・モジュール

主なアプリケーション

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。