P603-1 / P750 set

IEC 61967-4に基づく測定、1オーム / 150オーム

 

概要

プローブセットは、ICピンでIEC 61967-4に従った伝導エミッション（直接1オーム/150オーム結合による測定）を測定するために使用されます。電流および電圧測定用にそれぞれのプローブが用意されています。すべてのテストICピンにはプローブでアクセスし、接触することができます。プローブセットによる測定は、繰り返し行った際の高精度と測定結果の比較可能性を保証します。Langer EMV-TechnikのICE1 ICテスト環境を使用してテストICを起動します。測定はChipScan-ESAソフトウェアを用いて行うことができます。すべての測定ピンの測定結果はソフトウェアに保存され、迅速かつ体系的に比較できます。

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。