P1202 / P1301 L-ESD set
ESDランガーパルスH 0.2/2.5 E 0.2/5.5 nsフィールドカップリング
概要
プローブセットフィールドカップリング200 ps Langer ESDに含まれるフィールドソースは、非常に速い電気および磁気ESDパルスフィールドを生成します。これらのフィールドを使用して、ICの定義と再現可能なパルスが行われ、ESDフィールドに対する耐性が評価されます。これが重要なのは、PCボードや電気機器のESD耐性だからです。この耐性はテストによって確認されます(IEC 61000-4-2)。テスト中には、標準ESDパルスフィールドと非常に速い電気および磁気フィールド(200 ps)が、PCボードへのカップリングされたESD干渉によって生成されます。これらのフィールドはPCボード表面に影響を及ぼし、ICケース内に浸透します。フィールドがICに浸透すると、干渉イベントが発生します。磁気または電気フィールドによるIC干渉は、ICの上でのESD干渉の伝導カップリングに加えて、干渉経路の重要な源となります。プローブセットからは、ICのEMC(電磁両立性)挙動に関する知見が得られ、これをPCボードの開発に活かすことができます。高価な再設計は避けられ、開発コストは削減されます。さらに、ICのEMCパラメータを決定するためのテスト方法を使用することで、ICメーカーはより効率的にICを開発できるようになります。テストの設定にはICE1テストシステムと外部デバイスが必要です。
システムインテグレーションサービス
ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。
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