LFS-B3

スキャナープローブ 100 kHz から 50 MHz まで

 

概要

HフィールドプローブLFS-B 3の測定コイルはシャフトに垂直に取り付けられています。プローブの先端を垂直に使用することで、測定対象のアセンブリやデバイスに直接正しく配置することができます。これにより、大型のスイッチングコントローラの間など、通常アクセスが難しい印刷回路基板の表面の特定の場所で使用することが可能です。LFS-B 3は、開発中に磁場を測定するためにスキャナーで使用する受動的近接場プローブです。LFS-B 3は、測定対象から発生する磁場線を90°で検出します。側面からプローブに入る磁場線は検出されません。近接場プローブは小さく、扱いやすいです。電流を減衰させるシースがあり、したがって電気的に遮蔽されています。50 Ω入力を持つスペクトルアナライザーやオシロスコープに接続できます。Hフィールドプローブには50 Ωの内部終端抵抗はありません。

 

技術的なパラメータ

周波数帯	100 kHz ... 50 MHz
解像度	≈ 2 mm
プローブヘッドの寸法:	Ø ≈ 4 mm
コネクタ - 出力	SMA, male, jack

 

周波数応答 [dBµV] / [dBµA/m]

Hフィールド補正曲線 [dBµA/m] / [dBµV]

補正曲線 [dBµA] / [dBµV]

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。