JK-XC 多チャンネル温度テスター

 

製品説明

JK-8C多チャンネル温度測定器は、大型LCDディスプレイとUSBメモリ用インターフェースを搭載しています。本機は温度データの測定・表示を容易に行えるだけでなく、リアルタイムでの監視や追跡も可能です。入力信号の走査には高耐圧半導体リレーを使用することで高速スキャンを実現しており、ノイズの発生を抑えつつ、リレーの長寿命化も図られています。

 

概要

JK-XU/XA/XC マルチチャンネル温度テスターは、大型液晶スクリーンを搭載しています。Uディスク保存インターフェースで、測定データの表示や保存が簡単にできます。複数のポイントを同時にリアルタイムで監視・追跡するのに適した機器です。高耐圧半導体リレーを入力信号のスキャン切り替えに使用しており、高速スキャンを実現し、従来のリレーによるノイズや寿命の問題を解消します。

 

技術的な特徴:

各チャンネルの温度値の上下限を設定でき、警報音も鳴ります。大型液晶ディスプレイで、複数の温度値を表示でき、Uディスクインターフェースもあります。Uディスクを差し込むと大量の温度記録データを保存できます。大型LCDディスプレイは同時に複数の温度値を表示できます。Uディスクインターフェース付きです。Uディスクを差し込むと、大量の温度記録データを保存できます。大画面のLCDディスプレイでは、複数の温度値を同時に表示できます。Uディスクインターフェースを使えば、大量の温度記録データを簡単に保存可能です。特に、オーブン、滅菌器、ランプ、家庭用電化製品、モーター、電気ヒーター、サーモスタット、変圧器、サーマルプロテクターなどの業界で、マルチポイントの温度フィールドを検出するメーカーや品質検査部門に最適です。省エネランプや電子安定器、トランジスタ、チョーク、磁気リング、コンデンサーなどの部品の温度は、ライブテストでリアルタイムに同時に監視されます。全体の温度上昇プロセスはコンピュータによって曲線形式で記録され、分析や改善に便利です。省エネランプや電子安定器の信頼性向上は大きな役割を果たします。

 

技術的パラメータ：

モデル	JK-XU  (8U~64U)	JK-XA  (8A~64A)	JK-XC  (8C-64C)
入力タイプ	センサー: ニクロム-ニッケル-ニッケルシリコン（K型）熱電対、（T型、J型はカスタマイズ可能）
テストレンジ	1. 温度範囲　: -100℃~1000℃    2.測定精度　: 0～1000℃：±（測定値の0.5%＋1）℃  -100~0℃: ± ( read value*0.5%+2)℃
チャンネル番号	8 ,16, 24 , 32 ,40, 48, 64,
ディスプレイ	240×128ドット 液晶画面
シングルスクリーンディスプレイ	32 road
U ディスクストアレージ	yes	No	yes
通電中テスト	300V
内部ストレージ	yes	No	yes
アラームモード	デジタル表示安定化
耐干渉性	高周波ノイズ遮断
通信インターフェース	USB	RS232
ソフトウェアキット	2014 edition（latest）	2000 edition
許容される環境条件	1. 電源: AC220V±10%, 50Hz± 2% 2. 使用環境: 動作温度: -20～70℃、相対湿度: 20％～90％ 3. 熱電対間の最大電位差：350V（実効値）
外寸：	(L×W×H)36cm×26cm×16cm,  重量 ：約 5kg

 

計測器・試験機器の選定・提案

ペリテックは、試験計測システム開発の経験をもとに、お客様の用途・要求仕様に適した計測器・試験機器を選定・提案します。製品単体の仕様だけでなく、測定対象、必要な性能、接続方法、システム構成、他の計測機器との組み合わせなどを考慮し、試験・計測システムに適した製品をご提案します。

対応内容：
・用途・要求仕様に応じた計測器・試験機器の選定
・測定性能・インターフェース・接続方法の検討
・複数の計測機器を組み合わせたシステム構成の検討
・LabVIEW・PXI・CompactDAQなどとの組み合わせ
・既存設備・試験装置への組み込み検討
・自動計測・試験システムへの適用検討

製品選定や仕様についてのご相談から、試験計測システムへの組み込みを考慮した構成検討まで、ペリテックの技術経験を活かしてサポートします。

 

試験・計測システムの開発について

計測器の選定だけでなく、ソフトウェア開発、制御・計測システムの設計、自動試験、装置開発など、システム全体の構築をご検討の場合は、ペリテックのSIサービスをご覧ください。

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