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JK7000 マルチチャンネルデータレコーダー 温湿度データロガー

 

詳細説明

JK7000 マルチチャネル温湿度レコーダー

32ビットRAM高速プロセッサを使用し、サンプリングがさらに速くなりました。

DC電流: 4-20mA、DC電圧: 0-5V、熱電対: K, J, T, S, N, R、熱抵抗: PT100, CU50、周波数信号: 0-10000Hzなど、さまざまなセンサー入力に対応。

DC24V送信機電源出力を1系統提供、別売の出力モジュールも購入可能(各モジュールは8系統のDC24V送信機電源出力を提供)。

モジュール設計で、ユーザーが後から計測モジュールを購入してテストチャネルを追加可能。

標準は8チャネルで、最大128チャネルまで対応。各モジュールは8チャネル。

7インチ大画面を採用し、タッチ操作とキー操作の同時使用に対応。

マウス・キーボードはプラグアンドプレイ対応

マルチスクリーン表示、デジタル表示、バーグラフ表示、カーブ表示に対応

特定のアラーム機能で、上下限を設定可能

内蔵FLASHメモリ、容量は64M。8チャンネルで、最長3年間の記録が可能

外部Uディスクのオンライン保存機能に対応しており、いつでもデータを簡単にダウンロード・コピー可能

AC 65V〜240V電源およびDC 24V電源に対応(計測器用電源として使用)

リチウム電池による電源供給にも対応(オプション)

標準RS232通信伝送および制御ソフトに対応

 

アプリケーション

機器の温度監視と保守

電子回路部品の評価

モーター温度の測定

燃料電池の温度測定

低温倉庫の温度測定

温度管理

車両開発と車両部品の評価

周囲温度の監視

LEDランプの温度測定

 

モデル

JK7000

ディスプレイ

7インチTFTカラーLCD(640×480ピクセル)

チャネル番号

10(最大測定チャンネル数:80)

モジュールの最大接続数

*接続の最大数は入力/出力チャンネルの最大数によって制限され、モジュールの種類や構成によって変わります。

演算チャンネル数

50

通信チャンネル数

50

内部メモリ

SDメモリーカード(最大32GB)(フォーマット:FAT32またはFAT16)、工場出荷時標準は1GB

外部記憶媒体

USBインターフェース (/UHオプション):USB 2規格に対応(外部記憶媒体:USBフラッシュメモリ)(キーボード/マウス:HIDクラスVer.1.1規格に対応)

コミュニケーション機能

イーサネット(10BASE-T/100BASE-TX)、IEEE802.3規格対応(イーサネットフレーム形式:DIX)

Modbus/TCP(クライアント機能 / サーバー機能)

任意

シリアル通信:RS-232、RS485、Modbus/RTU(ホスト機能/スレーブ機能)

その他の機能

セキュリティ機能:キー機能とログイン機能

時計機能:カレンダー機能、精度:±5ppm(0~50℃)

LCDスクリーンセーバー機能

定格電圧

100〜240VAC(許容電圧範囲:90〜132VAC、180〜240VAC)

定格周波数

50/60Hz

消費電力

最大45VA(100VAC)、最大60VA(240VAC)

絶縁抵抗

イーサネット端子とRS422/485の間で、

絶縁端子と接地:≥20MΩ(500VDC)

耐圧

電源端子と接地の間:3000VAC(50/60Hz)/1分

外寸(幅×高さ×奥行き)

本体:288*128*300(mm)
モジュール含む:288*128*320(mm)

体重(ホストのみ)

約 5kg

JK7000 アナログ入力仕様

アイテム

内容

入力タイプ

光電リレーのスキャンモード、全チャネル絶縁入力、バランス入力

モード入力端子の形

M3ネジ端子

測定範囲

電圧

0.01mV~100V F.S.(フルレンジ)、最高分解能 1µV

熱抵抗

タイプ:PT100

熱電対

タイプ:K、J、E、T、R、S、B、N

湿度

0〜100%(オプションのC-150を使用)

電流

0.01mA-20.00mA

サンプリングレート

フルチャンネル

測定精度

温度/

熱電対

タイプ

測定

温度レンジ

(TS:測定温度)

測定精度

R

0≤TS≤100℃

±5.2℃

100<TS≤300℃

±3.0℃

300<TS≤1600℃

±(0.05% of rdg.+2.0℃)

S

0≤TS≤100℃

±5.2℃

100<TS≤300℃

±3.0℃

300<TS≤1760℃

±(0.05% of rdg.+2.0℃)

B

400≤TS≤600℃

±3.5℃

600<TS≤1820℃

±(0.05% of rdg.+2.0℃)

K

-200<TS≤0℃

±(0.05% of rdg.+2.0℃)

0<TS≤1370℃

±(0.5% of rdg.+1.0℃)

E

-200≤TS≤-100℃

±( 0.05% of rdg.+2.0℃)

-100<TS≤800℃

±(0.05% of rdg.+1.0℃)

T

-200≤TS≤-100℃

±(0.5% of rdg.+1.5℃)

-100<TS≤400℃

±(0.1% of rdg.+0.5℃)

J

-200≤TS≤-100℃

±2.7℃

-100<TS≤100℃

±1.7℃

100<TS≤1100℃

±(0.05% of rdg.+1.0℃)

N

-200≤TS<0℃

±(0.1%of rdg.+2.0℃)

0≤TS≤1300℃

±(0.1% of rdg.+1.0℃)

基準接点補償精度

±0.5℃

PT100

-100<TS≤100℃

±0.2(カスタマイズが必要)

A/D コンバーター

モード:ΔΣ、16ビット(実効分解能:±1/40000)

最大入力電圧

入力端子 +/- の間

-100V~100V: p-p

チャンネルの間(1-1/(-1)

60Vp-p

入力端子とGNDの間

60Vp-p

最大耐電圧

 

チャンネルの間

350Vp-p(1分以内)

入力端子とGNDの間

350Vp-p(1分以内)

 

計測器・試験機器の選定・提案

ペリテックは、試験計測システム開発の経験をもとに、お客様の用途・要求仕様に適した計測器・試験機器を選定・提案します。製品単体の仕様だけでなく、測定対象、必要な性能、接続方法、システム構成、他の計測機器との組み合わせなどを考慮し、試験・計測システムに適した製品をご提案します。

対応内容:
・用途・要求仕様に応じた計測器・試験機器の選定
・測定性能・インターフェース・接続方法の検討
・複数の計測機器を組み合わせたシステム構成の検討
・LabVIEW・PXI・CompactDAQなどとの組み合わせ
・既存設備・試験装置への組み込み検討
・自動計測・試験システムへの適用検討

製品選定や仕様についてのご相談から、試験計測システムへの組み込みを考慮した構成検討まで、ペリテックの技術経験を活かしてサポートします。

 

試験・計測システムの開発について

計測器の選定だけでなく、ソフトウェア開発、制御・計測システムの設計、自動試験、装置開発など、システム全体の構築をご検討の場合は、ペリテックのSIサービスをご覧ください。

試験・計測システム開発を見る

リンク先:
https://peritec-si.com/

 

 

 

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