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ICR HV150-27 set

近接場マイクロプローブ 1.5 MHz - 6 GHz

 

概要

近接場マイクロプローブは、高解像度の磁気近接場測定のために設計されています。ICR Hプローブを使用して、以下の測定を行うことができます:

 

  • IEC 61967-3に従ったICによる表面スキャン
  • ICを介したボリュームスキャン
  • ピンスキャン

 

ICR RFプローブヘッドの測定コイルは測定面に垂直に配置されています。プリアンプはプローブハウジングに統合されており、バイアスティーによって電源供給されています。ICR近接場プローブは納品前に品質チェックを受けます。異なる基準配置測定が行われ、その結果に基づいて補正線が生成されます。三種類の補正線が決定されます - 標準化された補正線、Hフィールド補正線、および電流補正線。

 

注意: ICRプローブはその構造上、衝撃に敏感であり、輸送および取り扱いのために保護キャップが付いています。

 

技術的なパラメーター

周波数範囲 1.5 MHz ... 6 GHz
解像度 80 µm
内径 150 µm

 

周波数応答

測定原則

デザイン・ビュー1

デザイン・ビュー2

トランスバース・プロファイル

参照物を介した測定

近接場マイクロプローブは、その設計と高い小型化の度合いにより、型系列内で伝送特性に違いを示すため、基準物体の上での測定が必要です。この目的のために、マイクロプローブはストリップライン上で測定されます。この方法により、あらかじめ定義された値における伝送特性を決定することができます。顧客には、注文した各マイクロプローブに対して証明書が提供され、対応する近接場マイクロプローブの特性が説明されます。

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

  • システム構成設計・機器選定支援
  • LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
  • 制御盤設計・製作
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  • ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
  • 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。

 

 

 

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