ICR HH500-75 set

近接場マイクロプローブ 200 kHz - 1 GHz

 

概要

このプローブは、磁気近傍場の高解像度測定用に設計されています。ICR Hプローブを使用すると、次の測定が行えます:

• IEC 61967-3に従ったICによる表面スキャン
• ICを介したボリュームスキャン
• ピンスキャン

ICR RFプローブヘッドの測定コイルは、測定面に対して水平に配置されています。プリアンプはプローブハウジングに統合され、バイアスティーによって電源が供給されます。ICR近接場プローブは、配達前に品質チェックを受けます。異なる基準セットアップ測定が行われ、その結果修正ラインが生成されます。標準化された修正ラインとHフィールド修正ラインの2つの異なる修正ラインが決定されます。

注意: ICRプローブはその構造上、衝撃に敏感であり、輸送および取り扱いのために保護キャップが付いています。

 

技術的なパラメーター

周波数帯	200 kHz - 1 GHz
解像度	300 µm
内径	500 µm

 

周波数応答

測定原則

デザイン、ビュー1

デザイン、ビュー2

トランスバースプロファイル

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

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