
ICR HH500-6 set
概要
このプローブは、高解像度で磁界の近傍を測定することを目的として設計されています。ICR H プローブを使用することで、以下の測定が実施可能です。
- IEC 61967-3 に基づく IC を用いた表面スキャン
- IC によるボリュームスキャン
- ピンスキャン
ICR RFプローブヘッドの測定コイルは、測定面に対して水平に配置されています。プローブハウジングにはプリアンプが内蔵されており、バイアスTから電源が供給されます。ICR近接場プローブは出荷前に品質検査を受けます。さまざまな参照設定での測定が行われ、結果として補正線が生成されます。2種類の補正線が決定されます — 標準化補正線とHフィールド補正線です。
注意: ICRプローブは構造上衝撃に敏感であり、輸送および取り扱いの際には保護キャップが付属しています。
テクニカルパラメーター
| 周波数帯 | 2 MHz ... 6 GHz |
| 解像度 | 300 µm |
| 内径 | 500 µm |
| 周波数応答 | ![]() |
システムインテグレーションサービス
ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。
- システム構成設計・機器選定支援
- LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
- 制御盤設計・製作
- 信号整合・インターフェース設計
- ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
- 現地導入・調整・保守対応
ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。
お問い合わせ・見積依頼フォーム
※当社の個人情報保護方針を必ずお読みいただき、同意の上必要事項をご入力してください。
