ICR E150 set

近接場マイクロプローブ Eフィールド 7 MHz から 3 GHz まで

 

概要

近接場マイクロプローブは、高解像度の電気近接場測定のために設計されています。ICR Eプローブを使用して、以下の測定を行うことができます：

• IC IEC 61967-3による表面スキャン
• ICによるボリュームスキャン
• ピンスキャン

ICR RFプローブヘッドの測定電極は測定面に対して水平に配置されています。プリアンプはプローブハウジングに統合されており、内蔵されたバイアスティーによって電源が供給されています。ICR近接場プローブは納入前に品質チェックを受けます。異なる基準セットアップ測定が行われ、結果として修正ラインが生成されます。標準化された修正ラインとEフィールド修正ラインの2つの異なる修正ラインが決定されます。

注意: ICRプローブはその構造上、衝撃に敏感であり、輸送および取り扱いのために保護キャップが付いています。

技術的なパラメーター

周波数範囲	7 MHz ... 3 GHz
解像度	65 µm
電極表面積	(150 x 35) µm

周波数応答

測定原則

 

デザイン・ビュー１

デザイン・ビュー2

トランスバースプロファイル

基準物による測定

近接場マイクロプローブは、その設計と高い小型化の度合いにより、型系列内で伝送特性に違いを示すため、基準物体の上での測定が必要です。この目的のために、マイクロプローブはストリップライン上で測定されます。こうすることで、あらかじめ定義された値における伝送特性を決定することができます。顧客には、注文した各マイクロプローブに対して証明書が提供され、対応する近接場マイクロプローブの特性が説明されます。

 

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

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