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E1セット イミニティ開発システム

E1set Immunity Development SystemE1setで計測している様子

E1セットは、アセンブリやデバイスの開発関連(プリコンプライアンス)デバッグ用のEMCツールシステムです。

バースト障害の原因(弱点)を正確かつ迅速に特定することができます。

E1を使用することで、開発者は、EMC対策を弱点に正確に選択し、寸法を決定することができます。EMC対策は、その有効性をテストすることができます。

製品の特長

  • ピークパルス値 0-1500 V
  • 立ち上がり時間:2 ns
  • テールタイム:10 ns

応用分野

  • 基板やIC上のフィールドソースによる高分解能弱点位置特定
  • イミュニティ、アセンブリの硬化

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