ホームページ / 製品 / Jinko製品 / データ収集カード 

データ収集カード 

 

JK2000 テクニカル パラメーター

有効な解決策

16 bits

チャンネル

8差動入力

チャンネル

 独立した 8個の設定

入力信号

熱電対 K、E、B、N、T、E、S、J、WRE5-26、WRE3-25

熱抵抗:Pt100、Cu50

現在の4-20mA、0-10mA、電圧0-5V、0-10V

通信方法

ZigBee  ワイヤレス

通信距離

500m (無障害)

通信周波数帯

2.5GHz

ネットワークトポロジー

・ポイントツーポイント(1対1接続)・ポイントツーマルチポイント(1対多接続) ・ピアツーピア(P2P、対等接続)・メッシュネットワーク

測定精度

±0.2%F●S

ゼロ点変動

±3uV/℃

サンプリング周期

1~19999秒(チャンネルごとに独立設定可能)

絶縁電圧

最大耐電圧 300Vdc

フルスケールドリフト

±25ppm /℃;92dB(minimum CMR @ 50/60Hz)

レコーディングモード

PC software recording

通信速度

1200,2400,4800,9600,38400,57600,115200bps

電源

+5/DC 又は 24V/DC

消費電力

 0.9W 以下

帯域幅

13.1Hz @50Hz 15.72Hz@60Hz

重量

0.185kg

本体材質

酸化アルミニウム

寸法

14.5cm*10cm*1.5cm(length * width * height)

動作温度

-10℃~ +70℃

動作湿度

結露なきこと、5~95%

 

計測器・試験機器の選定・提案

ペリテックは、試験計測システム開発の経験をもとに、お客様の用途・要求仕様に適した計測器・試験機器を選定・提案します。製品単体の仕様だけでなく、測定対象、必要な性能、接続方法、システム構成、他の計測機器との組み合わせなどを考慮し、試験・計測システムに適した製品をご提案します。

対応内容:
・用途・要求仕様に応じた計測器・試験機器の選定
・測定性能・インターフェース・接続方法の検討
・複数の計測機器を組み合わせたシステム構成の検討
・LabVIEW・PXI・CompactDAQなどとの組み合わせ
・既存設備・試験装置への組み込み検討
・自動計測・試験システムへの適用検討

製品選定や仕様についてのご相談から、試験計測システムへの組み込みを考慮した構成検討まで、ペリテックの技術経験を活かしてサポートします。

 

試験・計測システムの開発について

計測器の選定だけでなく、ソフトウェア開発、制御・計測システムの設計、自動試験、装置開発など、システム全体の構築をご検討の場合は、ペリテックのSIサービスをご覧ください。

試験・計測システム開発を見る

リンク先:
https://peritec-si.com/

 

 

 

お問い合わせ・見積依頼フォーム

※当社の個人情報保護方針を必ずお読みいただき、同意の上必要事項をご入力してください。

Translate »