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CS310M ポテンショスタット/ガルバノスタット(EIS対応)

  •  内蔵EIS/FRA、EIS周波数範囲: 10μHz~1MHz- 高出力ポテンショスタット/ガルバノスタット/ZRA
  •  電位制御範囲: ±10V(±12Vまでカスタマイズ可能);コンプライアンス電圧: ±21V
  •  電流制御範囲: ±2A- 電位分解能: 10μV;電流分解能: 1pA
  •  IR補償;ブースターを使用すると電流は±20A/40A/100Aまで対応可能

概要

製品紹介

CS310M ポテンショスタット/ガルバノスタットは、高速デジタルファンクションジェネレーター、高速データ取得回路、ポテンショスタットおよびガルバノスタットを備えています。高度なハードウェアと充実したソフトウェアにより、安定性と精度で高性能を発揮し、腐食、バッテリー、電気化学分析、センサー、生命科学、環境化学などのための包括的な研究プラットフォームとなります。CS310Mは、EIS、CV、LSV、ガルバノスタティック充放電、OCP、分極曲線(タフェルプロット)などを必要とする研究者にとって費用対効果の高いモデルです。バッテリーや腐食など、多くの分野で使用可能です。また、接地モードおよびフローティングモードをサポートしています。

アプリケーション

  1.  電気合成、電析(めっき)、陽極酸化などの反応機構
  2.  電気化学分析およびセンサー
  3.  水、コンクリート、土壌などにおける金属の腐食研究
  4.  腐食防止剤、水安定化剤、コーティング、およびカソード防護効率の迅速評価
  5.  新エネルギー材料(リチウムイオン電池、太陽電池、燃料電池、スーパーキャパシタ)、先進機能材料、光電子材料

仕様

仕様
2、3、または4電極システムに対応 潜在的および現在の範囲: 自動
制御可能範囲: ±10V(±12Vにカスタマイズ可能)、3、または4電極システムに対応 潜在的および現在の範囲: 自動 現在の制御範囲: ±2A
潜在的な制御精度: フルレンジの0.1%±1mV 現在の制御精度:全範囲の0.1%
潜在分解能: 10μV(>100Hz)、3μV(<10Hz) 現在の感度: 1pA
立ち上がり時間: <1μS (<10mA), <10μS (<2A) 参照電極入力インピーダンス:1012Ω||20pF
現在の範囲:2nA~2A、10レンジ コンプライアンス電圧: ±21V
最大出力電流:2A  CVおよびLSVスキャン速度:0.001mV〜10,000V/s
CAおよびCCパルス幅: 0.0001〜65,000秒 スキャン中の現在の増分: 1mA@1A/ms
スキャン中の電位上昇: 0.076mV@1V/ms SWV 周波数: 0.001~100 kHz
DPVおよびNPVのパルス幅:0.0001〜1000秒  ADデータ取得:16ビット@1 MHz、20ビット@1 kHz
 DA解像度: 16ビット、設定時間: 1μs CVの最小ポテンシャル増分:0.075mV
MP 周波数: 10μHz~1MHz ローパスフィルター:8オクターブをカバー
オペレーティングシステム: Windows 10/11 インターフェース:USB 2.0
重量 / 寸法:6.5kg、36.5 x 30.5 x16 cm
EIS(電気化学インピーダンス分光法)
信号発生器
周波数範囲: 10μHz〜1MHz 交流振幅: 1mV〜2500mV
直流バイアス: -10〜+10V 出力インピーダンス:50Ω
波形:正弦波、三角波、矩形波 波形歪み:<1%
スキャンモード:対数/線形、増加/減少
信号アナライザー

積分時間:最小:10ms またはサイクルの最長時間

最大:106サイクルまたは105秒
測定遅延:0~105秒
直流オフセット補償
 潜在的な自動補償範囲:-10V~+10V 現在の補償範囲:-1A~+1A
帯域幅:8桁周波数範囲、自動および手動設定

技術

技術 / ソフトウェア - モデル CS310M

安定した分極

開回路電位(OCP)

ポテンショスタティック(I-T曲線)

定電流

ポテンシオダイナミック(ターフェルプロット)

ガルバノダイナミック(DGP)

スウィープステップ関数 (SSF)

一過性分極

多才なステップ

マルチカレントステップ

ポテンシャル段階 (VSTEP)

ガルバニック段階 (ISTEP)

クロノメソッド

クロノポテンショメトリー(CP)

クロノアンペロメトリー(CA)

クロノコーロメトリー(CC)

ボルタンメトリー

線形スイープボルタンメトリー(LSV)

サイクリックボルタンメトリー(CV)

電気化学インピーダンス分光法(EIS)

周波数に対するEIS(IMP)

ガルバノスタティックEIS

電位に対するEIS(IMPE)(モット-ショットキー)

時間に対するEIS(IMPT)

時間に対するガルバノスタティックEIS

腐食測定

サイクリック分極曲線 (CPP)

線形分極曲線 (LPR)

電気化学的ポテンショキネティック再活性化 (EPR)

電気化学ノイズ (EN)ゼロ抵抗アンメータ (ZRA)

バッテリーテスト

バッテリーの充放電定電流充放電(GCD)

定電位充放電(PCD)

定電位間欠滴定法(PITT)

定電流間欠滴定法(GITT)

拡張機能

データロガー

電気化学的ストリッピング

析出クーロメトリーによるバルク電解(BE)

Rs測定

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

  • システム構成設計・機器選定支援
  • LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
  • 制御盤設計・製作
  • 信号整合・インターフェース設計
  • ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
  • 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。

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