ホームページ / 製品 / corrtest instruments製品 / ピッティング腐食電位測定用ポテンショスタット CS300M

ピッティング腐食電位測定用ポテンショスタット CS300M

標準付属品:インスツルメントホスト CS300M x1、CSスタジオソフトウェア、電源ケーブル x1、USBケーブル x1、セルケーブル x2、ダミーセル(1kΩ||100µF) x1、マニュアル

概要

製品紹介

CS300M ポテンショスタット/ガルバノスタットには、高速デジタル関数発生器、高速データ取得回路、ポテンショスタット、およびガルバノスタットが搭載されています。高性能なハードウェアと十分に機能するソフトウェアにより、安定性と精度に優れたエントリーレベルでコスト効率の高いモデルです。ポテンショダイナミック法(ターフェルプロット)などの手法を用いて、ピッティング腐食電位の測定に広く使用されています。

ピッティング腐食電位測定の国際標準:

中国:GB 4334.9-84
米国:ASTM G61-1986(2014)
日本:JIS G0577-1981

など...

規格

GB/T 17899-1999
GB/T 18590-2001
GB/T 32550-2016

業界標準
YY/T 1074-2002
YY/T0149-2006

YY/T 0695-2008

仕様

仕様
2極、3極、4極システムに対応 潜在的および現在の範囲: 自動
制御可能範囲: ±10V 現在の制御範囲:±2A
制御精度の可能性:フルレンジの0.1%±1mV 現在の制御精度:全域の0.1%
潜在分解能:10μV(>100Hz)、3μV(<10Hz) 現在の感度: 1pA
立ち上がり時間: <1μS (<10mA), <10μS (<2A) 参照電極入力インピーダンス:1012Ω||20pF
現在の範囲:2nA〜2A、10レンジ 準拠電圧: ±21V
最大出力電流: 2A CVおよびLSVの走査速度:0.001mV〜10,000V/s
CAおよびCCパルス幅:0.0001~65,000秒 スキャン中の現在の増分:1A/msで1mA
スキャン中の潜在的増加:0.076mV@1V/ms SWV 周波数: 0.001〜100 kHz
DPVおよびNPVパルス幅: 0.0001~1000秒 ADデータ取得:16ビット@1MHz、20ビット@1kHz
DA解像度:16ビット、設定時間:1μs CVの最小可能増分: 0.075mV
ローパスフィルター:8桁をカバー オペレーティングシステム: Windows 10/11
インターフェース:USB 2.0 重量/サイズ:6.5kg、36.5 × 30.5 × 16 cm

技術

テクニック - CS300M

安定化分極

· 開放電位(OCP)

· 定電位法(I-T 曲線)

· 定電流法

· ポテンシオダイナミック法(ターフェルプロット)

· ガルバノダイナミック法(DGP)

· スイープ・ステップ関数(SSF)

一時的分極

· 複数の電位ステップ

· 複数の電流ステップ

· 電位階段(VSTEP)

· ガルバニック階段(ISTEP)

クロノ法

· クロノポテンシオメトリー (CP)

· クロノアンペロメトリー (CA)

· クロノコロメトリー (CC)

ボルタンメトリー

· 線形スイープボルタンメトリー(LSV)

· サイクリックボルタンメトリー(CV)

· ステアケースボルタンメトリー(SCV)#

· スクエアウェーブボルタンメトリー(SWV)#

· 微分パルスボルタンメトリー(DPV)#

· 標準パルスボルタンメトリー(NPV)#

· 微分標準パルスボルタンメトリー(DNPV)#

· 交流ボルタンメトリー(ACV)

· 2次高調波交流ボルタンメトリー(SHACV)

· フーリエ変換交流ボルタンメトリー(FTACV)

#対応するボルタンメトリーのストリッピング法があります

腐食測定

· 循環分極曲線(CPP)

· 直線分極曲線(LPR)

· 電気化学的ポテンショキネティック再活性化(EPR)

· 電気化学ノイズ(EN)

· ゼロ抵抗アンメータ(ZRA)

バッテリーテスト

· バッテリーの充放電

· 定電流充放電(GCD)

· 定電位充放電

· 定電位間欠滴定法

· 定電流間欠滴定法

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

  • システム構成設計・機器選定支援
  • LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
  • 制御盤設計・製作
  • 信号整合・インターフェース設計
  • ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
  • 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。

お問い合わせ・見積依頼フォーム

※当社の個人情報保護方針を必ずお読みいただき、同意の上必要事項をご入力してください。

Translate »