CS2350M バイポテンショスタット（2チャンネル、EIS付き）

• 真の独立2チャンネルポテンショスタット。両チャンネルに内蔵EISモジュールを装備
• CS2350M EISバイポテンショスタットは、2セットの独立ポテンショスタットを持っていることと同等
• 任意のブランドのRRDEローターに接続してRRDEテストが可能
• 水素拡散試験を実施可能
• 2つの独立セルに接続し、各チャンネルで同時に実験が可能
• 各チャンネルが完全にフローティングで、各チャンネルの完全な独立性を保証

概要

内蔵EISモデルCS2350Mを搭載したBiポテンシオスタット/ Biガルバノスタットには、2セットの独立したポテンシオスタット/ガルバノスタットが内蔵されています。つまり、1台の機器で2セットのポテンシオスタット/ガルバノスタットを持っているのと同じです。各セットはEISを含むフル電気化学技術を提供します。各チャネルで実験を同時に行うことができます。これに加えて、2つのチャネルを組み合わせて、RRDEや水素拡散などの二電極系実験を共同で完了させることもできます。CS2350Mバイポテンシオスタットは、真の二重チャネルポテンシオスタットです。イーサネット接続を使用し、各チャネルにEISモジュールが含まれています。CS2350M EISバイポテンシオスタットは手頃な価格の機器です。同レベル・同機能の製品と比較して、当社の価格は他ブランドの半額または3分の1程度です。

アプリケーション

• 電気合成、電析（めっき）、陽極酸化、電気分解
• 酸素還元反応（ORR）、酸素発生反応（OER）、水素発生反応（HER）、二酸化炭素還元
• エネルギー・材料（リチウムイオン電池、太陽電池、燃料電池、スーパーキャパシタ）、高機能材料、センサー
• 金属の腐食挙動および防食評価
• 阻害剤、水質安定剤、コーティング、および陰極保護効率の迅速評価

仕様

仕様
2、3、または4電極システムに対応	インターフェース：イーサネット
潜在制御範囲: 主チャンネル: ±10V, 第二チャンネル: ±10V	現在の制御範囲：各チャンネル ±1A
潜在的な制御精度：フルレンジの0.1％±1mV	現在の制御精度：全範囲の0.1%
潜在的な解像度：1μV	現在の感度: 1pA
立ち上がり時間: <1μS (<10mA)、<10μS (<2A)	基準電極入力インピーダンス: 1012Ω||20pF
現在の範囲：2nA～2A、10レンジ	コンプライアンス電圧: ±21V
最大出力電流：各チャンネル±1A	CVおよびLSVスキャン速度：0.001mV〜10,000V/s
CAおよびCCパルス幅：0.0001～65,000秒	スキャン中の現在の増分: 1mA@1A/ms
スキャン中の潜在的な増分：0.076mV@1V/ms	SWV 周波数: 0.001～100 kHz
DPVおよびNPVのパルス幅: 0.0001〜1000秒	ADデータ取得：16ビット@1 MHz、20ビット@1 kHz
DA 解像度: 16ビット、設定時間: 1μs	CVの最小ポテンシャル増分：0.075mV
IMP 周波数: 10μHz〜1MHz	ローパスフィルター：8デケードをカバー
潜在および現在の範囲: 自動	重量 / 寸法: 8kg, 36.5 x 30.5 x 16cm
オペレーティングシステム: Windows 10/11
電気化学インピーダンス分光法（EIS）
信号発生器
周波数範囲: 10μHz～1MHz	交流振幅: 1mV〜2500mV
直流バイアス：-10〜+10V	出力インピーダンス：50Ω
波形：正弦波、三角波、方形波	波形歪み：<1%
スキャンモード: 対数/線形、増加/減少
信号アナライザー
積分時間: 最小: 10ms またはサイクルの最長時間	最大：106サイクルまたは105秒
測定遅延: 0～105秒
直流オフセット補償
潜在的な自動補償範囲: -10V～+10V	現在の補償範囲：-1A～+1A
帯域幅: 8デケードの周波数範囲、自動および手動設定

技術

各チャネルの技術/方法 - CS2350M

安定分極

開回路電位 (OCP)

ポテンショスタット法 (I-T 曲線）

ガルバノスタット法

ダイナミック法 (ターフェルプロット)

ガルバノダイナミック法 (DGP)

スイープ-ステップ関数 (SSF)

一時的分極

多重電位ステップ

多重電流ステップ

電位ステアステップ（VSTEP）

ガルバニックステアステップ（ISTEP）

クロノ法

クロノポテンショメトリー（CP）

クロノアンペロメトリー（CA）

クロノコーロメトリー（CC）

ボルタンメトリー

線形スイープボルタンメトリー（LSV）

サイクリックボルタンメトリー（CV）

階段状ボルタンメトリー（SCV）

方形波ボルタンメトリー（SWV）

微分パルスボルタンメトリー（DPV）

通常パルスボルタンメトリー（NPV）

微分通常パルスボルタンメトリー（DNPV）

交流ボルタンメトリー（ACV）

第2高調波交流ボルタンメトリー（SHACV）

フーリエ変換交流ボルタンメトリー（FTACV）

アンペロメトリック

微分パルスアンペロメトリー（DPA）

微分パルスアンペロメトリー（DDPA）

三重パルスアンペロメトリー（TPA）

積分パルスアンペロメトリック検出（IPAD）

ストリッピングボルタンメトリー

ポテンショスタティックストリッピング

リニアストリッピングステアケースストリッピング

スクエアウェーブストリッピング

差分パルスボルタンメトリーストリッピング

ノーマルパルスボルタンメトリーストリッピング

差分ノーマルパルスボルタンメトリーストリッピング

電気化学インピーダンス分光法（EIS）

EIS 対 周波数（IMP）

定電流法 EIS

EIS 対 電位（IMPE）（モット-ショットキー）

EIS 対 時間（IMPT）

定電流法 EIS 対 時間

腐食測定

サイクル分極曲線（CPP）

線形分極曲線（LPR）

電気化学的ポテンシオキネティック再活性化（EPR）

電気化学的ノイズ（EN）

ゼロ抵抗アンメーター（ZRA）

バッテリーテスト

バッテリーの充放電

定電流充放電（GCD）

定電位充放電

定電位間欠滴定法（PITT）

定電流間欠滴定法（GITT）

拡張機能

データロガー

電気化学的ストリッピング／析出

クーロメトリーを用いた大量電解 (BE)Rs

測定

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
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ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。