ATE8104/ATE8108 トランシーバーテストオールインワンシステム

 

TEオールインワンテストシステムは、光モジュールの様々なテストケースを考慮した上で、機能要件に対するニーズの割合に応じて各サブモジュールを統合しました。ユーザーは実際のテスト要件に応じて設定を最適化し、柔軟に組み合わせることができ、トランシーバーテストメーターの利用率を向上させ、テストのコストを効果的に削減できます。

統合されたソフトウェアは、トランシーバーテストにおける様々なパラメータをまとめています。ユーザーは積み木を積むように速やかにテストシステムを構築し、新製品の量産導入を早めることができます。

システム全体はマルチチャンネル並列テストに対応し、ソフトウェアとハードウェアの組み合わせで、機器とソフトウェアの機能を十分に発揮させ、製品一つ一つのテスト効率を大幅に向上させることができます。

 

特徴

統合されたプラグイン型光学計測器

各機能モジュールはプラグインモジュールに統合されることで、ユーザーがハードウェアの構成を柔軟に最適化することができます

 

ソフトウェアのプラットフォーム化

ソフトウェアは高度に統合されており、ソフトウェアの各サブ機能モジュールを自由に呼び出したり、組み合わせたりすることが可能

 

複数チャンネルの並列テスト

チャンネルの数を増やし、並列でテストさせることにより、テスト効率を大幅に向上させることが可能

 

統合されたTEC 温度制御システム

モジュールの-40 ℃~90 ℃の温度サイクル試験に対応

 

機能と利点

 

プラグイン型光学計測器

光パワーメータ／光スイッチ／光減衰器／光CDRといった常用光学計測器を統合し、MUX／DEMUX／Splitterといった常用受動部品を統合することで、柔軟に設定可能

統合温度サイクル試験システム

TECベースの温度制御システム
10~85℃の温度範囲に対応

プラットフォーム化のソフトウェアシステム

サブ機能のモジュール化を実現
ドラッグ＆ドロップ操作に対応
実行ユニットの標準化を実現
開発する際のムダを削減
2次開発に対応

 

ソフトウェアによるレポートの自動作成

合格率分析
直行率分析
不良原因の統計・分析
資材消費数量統計
従業員作業時間の統計・分析
レポートの定時プッシュ

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

• システム構成設計・機器選定支援
• LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
• 制御盤設計・製作
• 信号整合・インターフェース設計
• ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
• 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。