ホームページ / 製品 / CTC製品 / アプリケーション ガイド / 技術比較:100 mV/g 対 50 mV/g 加速度計

技術比較:100 mV/g 対 50 mV/g 加速度計

 

100 mV/g 対 50 mV/g 加速度計を比較します

 

イントロダクション

 

感度が100 mV/gの加速度計と感度が50 mV/gの加速度計にはいくつかの違いがあります。

現在のコンディションモニタリング業界での標準感度は100 mV/gです。これは常にそうであったわけではなく、100 mV/gに置き換わる前は、業界標準の感度は50 mV/gでした。

以前、50 mV/gの加速度計は、コンディションモニタリング業界で標準として2つの理由で使用されていました

  • センサー技術は、接続される読み出し機器に関係なく、100 mV/g加速度計の動的範囲を±50 gに制限しました
  • 読み取り装置(現代のアナライザーの前身)は、±5V のフルスケール範囲に制限されており、これにより 100 mV/g の加速度計は 50 g の振動範囲に制限されていました(100 mV/g × 50 g = 5 V)

これらの制限を考慮すると、過去にこの技術を使用していたユーザーは、100 mV/g 加速度計と比較して、50 mV/g 加速度計を使用することで 100 g のより広いダイナミックレンジ(50 mV/g × 100 g = 5 V)を達成することができました。

技術が進歩するにつれて、業界基準は変化しており、現代のデータ解析装置の自動スケール機能と組み合わせて使用された場合の現代のセンサー技術を比較することができます。

100 mV/g 対 50 mV/g 感度の加速度計の比較には、CTC の AC102(100 mV/g)および AC117(50 mV/g)加速度計を使用します。AC102 および AC117 の技術仕様書は 3-4 ページに示されており、この比較に参照されます。これらのセンサーは寸法と重量が同一であり、この比較に最適です。

周波数特性

加速度計を比較する際の主要な特性の一つは、それぞれの加速度計が正確に測定できる周波数応答範囲です。各加速度計には標準感度(100 mV/g または 50 mV/g)があり、規定された感度に対して出力を生成する公表された許容範囲があります。

上のチャートは、各加速度計感度がどの速度で検出に有効かを理解するのに役立ちます。低周波および高周波の両方の場合において、100 mV/g の感度は 50 mV/g の感度よりも優れています。さらに具体的に言うと、AC102(100 mV/g)加速度計は、±3 dB の許容範囲内で 0.5 Hz - 1 Hz および 12,500 Hz - 15,000 Hz の周波数を検出することができますが、これは AC117(50 mV/g)加速度計ではできないことです。

ダイナミックレンジ

次に見ていく特徴は、各加速度計のダイナミックレンジです。ダイナミックレンジは、与えられた振動量から信号を電子増幅器に通すことができるトランスデューサの特性です。

もし以前の話題である、フルスケール範囲が±5 Vに制限された従来の読み取り装置について振り返り、この制限をAC102の±80 gのピーク動的範囲と組み合わせると、ユーザーは信号のクリッピングを経験することになります。しかし、現代の技術とデジタル信号解析装置による自動スケーリングの能力により、AC102のように±80 gのピーク動的範囲を持つセンサーを使用する場合、ユーザーは信号のクリッピングを経験することはありません。

スペクトルノイズ

両方のセンサー技術の最後の違いはスペクトルノイズです。この特性は、極端に低速の場合にのみセンサーの信号に影響を与えます。実際の環境では、ユーザーが100 mV/gまたは50 mV/gの加速度計のどちらからもスペクトルノイズによる問題に直面することはまずありません。しかし、比較のために私たちはその違いを探求してみます。

結論として、CTCの現代的な100 mV/g 加速度計技術は、±80 gの動的範囲を持ち、最新のアナライザーと組み合わせて使用することで、回転速度が遅い場合でも速い場合でもベアリングの故障を特定することができます。これは、従来の読み取り装置と50 mV/gセンサー技術を使用していた以前のユーザーと比較して、ベアリング故障をより早い段階で予測するのに役立ちます。

システムインテグレーションサービス

ペリテックは、各種センサ、信号変換モジュール、リレー、通信機器などを活用し、お客様の計測・制御システムを最適に構成します。機器単体の提供にとどまらず、以下を含む一貫したシステムインテグレーションサービスを提供します。

  • システム構成設計・機器選定支援
  • LabVIEW・PXI・CompactDAQなど計測プラットフォームとの統合
  • 制御盤設計・製作
  • 信号整合・インターフェース設計
  • ソフトウェア開発・自動試験シーケンス構築
  • 現地導入・調整・保守対応

ペリテックの技術力と経験を活かし、試験・計測・制御システム全体の構築をサポートします。

 

 

お問い合わせ・見積依頼フォーム

※当社の個人情報保護方針を必ずお読みいただき、同意の上必要事項をご入力してください。

Translate »